用途：
采用白光相移显微干涉技术，测量光纤端面纳米级形貌参数：
？曲率半径（ROC）
？顶点偏移（Apex Offset）
？光纤高度
？APC光纤连接器的研磨角度
？APC光纤连接器定位键的角度
性能特点：
三次元非接触式相移干涉测量技术，高，速度快；
重复小于2nm
比，操作简单，经济实用；
可定制测量格式；
适用于任何光纤连接器；
技术参数：
重复性曲率半径（ROC）0.3mm
光纤高度（Fiber Height）8nm
顶点偏移（Apex Offset）2um
角度 0.02deg
稳定性曲率半径（ROC）0.5mm
光纤高度（Fiber Height）12nm
顶点偏移（Apex Offset）5um
角度 0.03deg
工作温度－10℃～30℃
物镜放大倍率 10X
分辨率 1um
光源波长 650nm
电源 1 2V DC
尺寸长440 X宽225 X高175mm
采用白光相移显微干涉技术，测量光纤端面纳米级形貌参数：
？曲率半径（ROC）
？顶点偏移（Apex Offset）
？光纤高度
？APC光纤连接器的研磨角度
？APC光纤连接器定位键的角度
性能特点：
三次元非接触式相移干涉测量技术，高，速度快；
重复小于2nm
比，操作简单，经济实用；
可定制测量格式；
适用于任何光纤连接器；
技术参数：
重复性曲率半径（ROC）0.3mm
光纤高度（Fiber Height）8nm
顶点偏移（Apex Offset）2um
角度 0.02deg
稳定性曲率半径（ROC）0.5mm
光纤高度（Fiber Height）12nm
顶点偏移（Apex Offset）5um
角度 0.03deg
工作温度－10℃～30℃
物镜放大倍率 10X
分辨率 1um
光源波长 650nm
电源 1 2V DC
尺寸长440 X宽225 X高175mm
