EDX2600荧光分析仪

　　EDX-2600型X荧光分析仪具有分析高、测试速度快、测试简单等优点。可满足RoHS/WEEE　相关管控要求，合国际电工委员会IEC62321标准及中国标准所规定的技术要求和技术规范。
　　
　　一、应用领域：
　　1.分析从硫（S）到铀（U）之间的Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As　等元素。
　　2.对RoHS　指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）进行精准测试及无卤测试。
　　3.金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定分析。

　　二、性能特点：
　　1.检测样品为规则样品与不规则样品，包括块状、片状、线状。样品类型为塑胶、金属、粉末、液体。
　　2.高压电源。功率50　W.电压0-50　KV，电流0-10uA.
　　3.X　光管。功率50W，管压5-50KV；管流电流0-10uA.
　　4.原装电制冷Si-Pin　探测器。良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
　　5.高信噪比的电子线路系统。
　　6.八个准直器和四个滤光片的电动组合，软体自动切换，满足各种测试方式的应用，降低分析元素附近的背景强度，分析限。
　　7.多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制，分析准确度。
　　8.内置高清晰摄像头，的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作
　　为检测的组成部分。
　　9.载物测试平台，配有微调装置，实现检测物的定位与检测区域的理想调整。
　　10.小样品腔尺寸（闭仓门测试）：460×298×150mm.大样品腔尺寸（开仓门测试）：无限制，部分取代手持式功能。
　　1.三维散热系统：大幅度提供仪器的性、稳定性。
　　12.辐射系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线护系统。
　　13.分析软件：国际的XRF　分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP　法）、理论α系数法等多种经典分析方法，测试数据的准确性。

　　14.重量：约45KG.
　　三、主体配置：
　　1.薄窗X　光管（W　或Mo　靶）。
　　2.高压电源。
　　3.原装美国电制冷Si-Pin　半导体探测器。
　　4.大样品测量腔。
　　5.移动平台。
　　6.光路增强系统。
　　7.高信噪比电子线路系统。
　　8.高清晰摄像头。
　　9.自动切换型准直器和滤光片。
　　10.三重保护模式。
　　1.整体钢架结构，力度的。
　　12.计算机、液晶显示器、激光打印机。
　　13.分析软件。
　　14.标准物质：银校正标样等。
　　15.仪器的其它配置：样品杯、测试薄膜、保险丝。