仪器简介：
NETZSCH公司LFA 447 Nanoflash®闪光导热仪，在材料热扩散与导热性能测量方面又一有力的工具。遵照ASTM E1461标准，Nanoflash®使用氙灯作为加热源加热样品表面，使用红外探测器读取样品温升，减少了潜在的表面热阻，可以测量薄的样品如基质上的涂层、薄膜材料或多层样品。
Nanoflash®的操作实现高度自动化：由软件控制测试温度与闪光灯启闭，并进行数据分析。自动进样系统允许仪器在测试过程中测量多个样品。在炉体到达设定温度后，每一数据点的采集通常短于五分钟。仪器可以为每一样品单独设置闪光能量等级、脉冲宽度与温度。其所测量的热扩散系数范围十分宽广，覆盖从聚合物到金刚石各类材料领域。
测量原理：作为加热源的氙灯发射一束脉冲，打在样品的下表面，由红外探测器测量样品上表面的相应温升，并由软件计算出样品的热扩散系数。
仪器可以同步测量热扩散系数（α）与比热（Cp）。比热的测量是通过比较样品的实际温升与已知比热的参比样的温升求得。若已知样品的密度（ρ），则按照下式可计算出样品的导热系数（λ）：
λ（T）＝α（T）＊Cp（T）＊ρ（T）
使用内置的2或4样品位的自动进样器，可以同时自动进行多个样品的测量。样品托盘操作容易，制样快，测样周期短。
提供的矩阵扫描（MTX）选件，用于50mm×50mm的平板状样品，在整个样品表面测定热扩散系数的差别，x方向与y方向上的分辨率为100μm。
NETZSCH公司LFA 447 Nanoflash®闪光导热仪，在材料热扩散与导热性能测量方面又一有力的工具。遵照ASTM E1461标准，Nanoflash®使用氙灯作为加热源加热样品表面，使用红外探测器读取样品温升，减少了潜在的表面热阻，可以测量薄的样品如基质上的涂层、薄膜材料或多层样品。
Nanoflash®的操作实现高度自动化：由软件控制测试温度与闪光灯启闭，并进行数据分析。自动进样系统允许仪器在测试过程中测量多个样品。在炉体到达设定温度后，每一数据点的采集通常短于五分钟。仪器可以为每一样品单独设置闪光能量等级、脉冲宽度与温度。其所测量的热扩散系数范围十分宽广，覆盖从聚合物到金刚石各类材料领域。
测量原理：作为加热源的氙灯发射一束脉冲，打在样品的下表面，由红外探测器测量样品上表面的相应温升，并由软件计算出样品的热扩散系数。
仪器可以同步测量热扩散系数（α）与比热（Cp）。比热的测量是通过比较样品的实际温升与已知比热的参比样的温升求得。若已知样品的密度（ρ），则按照下式可计算出样品的导热系数（λ）：
λ（T）＝α（T）＊Cp（T）＊ρ（T）
使用内置的2或4样品位的自动进样器，可以同时自动进行多个样品的测量。样品托盘操作容易，制样快，测样周期短。
提供的矩阵扫描（MTX）选件，用于50mm×50mm的平板状样品，在整个样品表面测定热扩散系数的差别，x方向与y方向上的分辨率为100μm。
