●用X射线发生器激发--分析元素多（Na-U元素）。
●采用电致冷半导体探测器--分析高。
●采用多道（2048）脉冲分析器--实现多元素同时分析。
●采用稳谱技术了仪器在任何环境下工作状态的一致性--稳定性好。
●同时显示和观测谱线、多窗口工作、类型自动识别、自动解谱、自动给出测量结果--操作简单。
●采用了的比值技术--分析结果准确。
●采用了新测量模式--避免元素间相互干扰，分析结果。
●可测量粉状、块状、液体状样品--制样简单、方式多样。
●鉴定，评审结果：仪器总体性能处于国内水平，部分指标国际水平。
●设计合理，稳定性好，故障率低，使用寿命长。
●检测，直接压饼物理分析，无需融样，不破坏贵重物品检测。
●：分析成本低，整机价格不到设备的三分之一。
●多层屏蔽保护，辐射（辐射剂量为15usv／h，要求＜25usv／h）。
●1999年取得了计量仪器生产许可证，被科技部列为“九五”科技成果重点推广项目，2003年授予“重点新产品”称号。
技术指标：
1、能量色散型，Si（Li）探测器分辨率149ev。
2、分析元素范围Na～U，Mg、Al、Si、P、S、Ca、Ti、V、Fe、Mn、Pb、Zn、Sn、Sb、Au、Ag等。
3、可分析固体、液体、粉末等样品类型，不融样，直接测量。
4、探测器无需液氮制冷，运行及维护费用低。
5、温度适应范围-10～40度，湿度适应范围20％～80％。
6、测量范围：1ppm-99.99％。
7、仪器稳定性好，8小时连续测定RSD≤0.25％。
8、重复性：小于0.1％
9、采用Windows操作系统和中文测量控制软件，人机界面友好，操作简单、维护方便。
10、测量时间：小于200秒
11、辐射剂量：小于25usv／h
12、电源：220V、50Hz；整机功耗小于250W。
●采用电致冷半导体探测器--分析高。
●采用多道（2048）脉冲分析器--实现多元素同时分析。
●采用稳谱技术了仪器在任何环境下工作状态的一致性--稳定性好。
●同时显示和观测谱线、多窗口工作、类型自动识别、自动解谱、自动给出测量结果--操作简单。
●采用了的比值技术--分析结果准确。
●采用了新测量模式--避免元素间相互干扰，分析结果。
●可测量粉状、块状、液体状样品--制样简单、方式多样。
●鉴定，评审结果：仪器总体性能处于国内水平，部分指标国际水平。
●设计合理，稳定性好，故障率低，使用寿命长。
●检测，直接压饼物理分析，无需融样，不破坏贵重物品检测。
●：分析成本低，整机价格不到设备的三分之一。
●多层屏蔽保护，辐射（辐射剂量为15usv／h，要求＜25usv／h）。
●1999年取得了计量仪器生产许可证，被科技部列为“九五”科技成果重点推广项目，2003年授予“重点新产品”称号。
技术指标：
1、能量色散型，Si（Li）探测器分辨率149ev。
2、分析元素范围Na～U，Mg、Al、Si、P、S、Ca、Ti、V、Fe、Mn、Pb、Zn、Sn、Sb、Au、Ag等。
3、可分析固体、液体、粉末等样品类型，不融样，直接测量。
4、探测器无需液氮制冷，运行及维护费用低。
5、温度适应范围-10～40度，湿度适应范围20％～80％。
6、测量范围：1ppm-99.99％。
7、仪器稳定性好，8小时连续测定RSD≤0.25％。
8、重复性：小于0.1％
9、采用Windows操作系统和中文测量控制软件，人机界面友好，操作简单、维护方便。
10、测量时间：小于200秒
11、辐射剂量：小于25usv／h
12、电源：220V、50Hz；整机功耗小于250W。
