深圳市金东霖科技有限公司大量提供高菲希尔双探测器膜厚测试仪,深圳市金东霖科技有限公司华南总代理主营美国BOWMAN（博曼）X射线荧光膜厚测试仪，此仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且适合于对微细表面积或镀层的测量。欢迎来电咨询或亲临我司测试及参观!!! X-RAY 膜厚仪采用真正的基本参数原理（FP）来测量厚度，XRF镀层厚度分析仪配的X射线光学系统,专门测量小的面积.电动测量台,量解像半导体接收器,四个电动准直器.自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴冲撞传感器，可在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等 合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能高的度和低的检测限。短短数秒钟，有需要的朋友请来电咨询希望我们能成为长期的合作伙伴。
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