- 品牌/商标：NANOVEA
- 企业类型：贸易商
- 新旧程度：全新
- 原产地：USA
产品简介：
P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪，采用国际的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，符合国际标准ISO25178，用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品，不收材料形状及颜色的限制。
产品特性:
1.测量具有非破坏性：采用白光共聚焦技术，可获得纳米级分辨率
2.测量范围大：15mm×15mm，无需进行图像拼接
3.可测样品的坡度：87oC
4.测量范围广：可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品
5.不受环境光的影响
6.不受样品反射率与形状的影响
7.操作简单：样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪
主要技术参数：
1，扫描范围：1×1，2×2，3×3，4×4，5×5，10×10，15×15（mm）
2，扫描步长：1×1，2×2，5×5（μm）
3，Z方向测量范围：300μm
4，Z方向测量分辨率：8nm
5，Z方向测量：60nm
6，横向光学分辨率：2.6μm
产品应用：
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发
