产品详细说明
导波雷达发出的高频微波脉冲沿着探测组件（钢缆或钢棒）传播，遇到被测介质，由于介电常数突变，引起反射，一部分脉冲能量被反射回来。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与到被测介质的距离成正比。容器中存在两种不同介质，当上面一层的介质介电常数较小，而下面的介质介电常数较大时，高频微波脉冲沿着探测组件传播遇到上层介质时，由于其介电常数较小，因而有少的能量被这一层介面反射，而大部分能量穿透上层介质继续向下传播，遇到两层的介面时，由于下层介质的介电常数较大，因而会有较大的能量被反射回来。因而导波雷达是可以测量两种不同介质的介面，其测量条件是上层介质不导电或其介电常数比下层介质介电常数小10以上。
特点
由于采用了的微波处理器和的EchoDiscovery回波处理技术，导波雷达物位计可以应用于各种复杂工况。
多种过程连接方式及探测组件的型式，使得GDGW系列导波雷达物位计适用于各种复杂工况。如：高温、高压及小介电常数介质等。
采用脉冲工作方式，导波雷达物位计发射功率低，可安装于各种金属、非金属容器内，对人体及环境均。
规格与参数
应用：液体及固体测量，复杂过程条件
量程：缆：30m/棒：6m
测量：&plun;10mm
过程连接：G1½A、G2A、1½NPT
探测组件材料：不锈钢316L/PTFE
钢缆/棒直径：￠6mm、￠8mm/￠10mm
过程温度：-40～150℃
过程压力：-0.1～40bar
信号输出：两线制4～20mA/HART
导波雷达发出的高频微波脉冲沿着探测组件（钢缆或钢棒）传播，遇到被测介质，由于介电常数突变，引起反射，一部分脉冲能量被反射回来。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与到被测介质的距离成正比。容器中存在两种不同介质，当上面一层的介质介电常数较小，而下面的介质介电常数较大时，高频微波脉冲沿着探测组件传播遇到上层介质时，由于其介电常数较小，因而有少的能量被这一层介面反射，而大部分能量穿透上层介质继续向下传播，遇到两层的介面时，由于下层介质的介电常数较大，因而会有较大的能量被反射回来。因而导波雷达是可以测量两种不同介质的介面，其测量条件是上层介质不导电或其介电常数比下层介质介电常数小10以上。
特点
由于采用了的微波处理器和的EchoDiscovery回波处理技术，导波雷达物位计可以应用于各种复杂工况。
多种过程连接方式及探测组件的型式，使得GDGW系列导波雷达物位计适用于各种复杂工况。如：高温、高压及小介电常数介质等。
采用脉冲工作方式，导波雷达物位计发射功率低，可安装于各种金属、非金属容器内，对人体及环境均。
规格与参数
应用：液体及固体测量，复杂过程条件
量程：缆：30m/棒：6m
测量：&plun;10mm
过程连接：G1½A、G2A、1½NPT
探测组件材料：不锈钢316L/PTFE
钢缆/棒直径：￠6mm、￠8mm/￠10mm
过程温度：-40～150℃
过程压力：-0.1～40bar
信号输出：两线制4～20mA/HART
