本公司的太阳能电池组件裂纹测试仪YA-II，通过引进国际检测技术，通过太阳能电池的电致发光原理（EL现象）而研制的用于太阳电池组件内部缺陷快速检测的仪器。根据太阳电池组件中电池片发光亮度的差异清楚地显示组建中的裂片（包括隐裂和显裂），劣片及焊接缺陷，用于层压前测试可成品率，增加输出功率，用于终测试可以问题组件流入市场，并且可以通过返修来弥补成品率。另外还可以检测电池片存在的问题。
在EL检测装置中，使电流流经电池单元从而使单元本身发光。记录该状态的图象，然后进行图象解析，可识别出裂缝产生的位置。通过这种方法，可判别肉眼无法确认的单元内部的细小裂缝。
除了支持结晶硅型和薄膜硅型太阳能电池之外，还可应用于化合物太阳能电池。可品质管理的水准。
应用范围
应用：
太阳能电池片工艺：
-正向偏压：硅料缺陷、断线、边缘短路等测试
-反向偏压：漏电流测试
太阳能组件工艺：-低效组件检修
成像设备
断栅隐裂
虚焊碎片
产品型号 YA-II
适用样品晶体硅太阳能组件、薄膜硅型太阳能组件
分辨率：200万像素
检测：2秒成像；
测试面宽：1.98米 x 1.24米；（可以根据客户需求定制
测试面积裂纹、碎片、断栅、虚焊等缺陷
测试时间 2秒
恒流电源短路电流下，保护太阳能组件不受影响
电流范围 0～10A 连续可调
电压范围 0～100V连续可调
环境温度 5℃～35℃
相对湿度＝85％RH
在EL检测装置中，使电流流经电池单元从而使单元本身发光。记录该状态的图象，然后进行图象解析，可识别出裂缝产生的位置。通过这种方法，可判别肉眼无法确认的单元内部的细小裂缝。
除了支持结晶硅型和薄膜硅型太阳能电池之外，还可应用于化合物太阳能电池。可品质管理的水准。
应用范围
应用：
太阳能电池片工艺：
-正向偏压：硅料缺陷、断线、边缘短路等测试
-反向偏压：漏电流测试
太阳能组件工艺：-低效组件检修
成像设备
断栅隐裂
虚焊碎片
产品型号 YA-II
适用样品晶体硅太阳能组件、薄膜硅型太阳能组件
分辨率：200万像素
检测：2秒成像；
测试面宽：1.98米 x 1.24米；（可以根据客户需求定制
测试面积裂纹、碎片、断栅、虚焊等缺陷
测试时间 2秒
恒流电源短路电流下，保护太阳能组件不受影响
电流范围 0～10A 连续可调
电压范围 0～100V连续可调
环境温度 5℃～35℃
相对湿度＝85％RH
