系统技术优势
TDLAS技术：TDLAS技术是一种高分辨率吸收光谱技术。与传统红外
光谱技术不同，其采用的半导体激光光源的光谱宽度远
小于特定气体吸收谱线的宽度，避免了背景气体间的交
叉干扰。
终生无需校准：LasIR分析控制器内置特定气体参比池，通过对参比池的实
时监测，动态调节TDL的电流和温度输入，使得LasIR
系统总是“锁住”特定气体的吸收谱线，因此系统不存
在漂移问题，前期安装调试完毕后，用户无需对系统进
行定期的标气校准，是真正的免维护系统。
LasIR气体分析系统采用气体直接吸收测量的方式。依据Beer-Lambert定律：
I（v）＝I0（v）exp［-S（v）φ（v）Pabs C L］
C（浓度）＝-ln I（v）/I0（v）/-S（v）φ（v）PabsC L
I（v）—光强
I0（v）——入射光强
因为激光传输光路中的粉尘或视窗污染造成的入射光与光的光强减弱是等比例的，因此通过我们的除法运算以及光谱扫描技术消除了粉尘和视窗污染的影响。
一机多点监测：
由于系统采用光纤分布技术，可实现一台分析控制器多同
时监测16个现场需监测点。不同与其他采样分析系统电磁
阀多路切换技术，LasIR系统是真正的同时现场多点监测。
检测范围宽：
LasIR气体分析系统可以在ppb～%范围内进测，其他气测系统无法与其比拟。真正适合于工业流程气体的监测。
远距离光程开放式：
开放式光学系统光程可达1000米，实现环境空气监测中低检测下限要求。
TDLAS技术：TDLAS技术是一种高分辨率吸收光谱技术。与传统红外
光谱技术不同，其采用的半导体激光光源的光谱宽度远
小于特定气体吸收谱线的宽度，避免了背景气体间的交
叉干扰。
终生无需校准：LasIR分析控制器内置特定气体参比池，通过对参比池的实
时监测，动态调节TDL的电流和温度输入，使得LasIR
系统总是“锁住”特定气体的吸收谱线，因此系统不存
在漂移问题，前期安装调试完毕后，用户无需对系统进
行定期的标气校准，是真正的免维护系统。
LasIR气体分析系统采用气体直接吸收测量的方式。依据Beer-Lambert定律：
I（v）＝I0（v）exp［-S（v）φ（v）Pabs C L］
C（浓度）＝-ln I（v）/I0（v）/-S（v）φ（v）PabsC L
I（v）—光强
I0（v）——入射光强
因为激光传输光路中的粉尘或视窗污染造成的入射光与光的光强减弱是等比例的，因此通过我们的除法运算以及光谱扫描技术消除了粉尘和视窗污染的影响。
一机多点监测：
由于系统采用光纤分布技术，可实现一台分析控制器多同
时监测16个现场需监测点。不同与其他采样分析系统电磁
阀多路切换技术，LasIR系统是真正的同时现场多点监测。
检测范围宽：
LasIR气体分析系统可以在ppb～%范围内进测，其他气测系统无法与其比拟。真正适合于工业流程气体的监测。
远距离光程开放式：
开放式光学系统光程可达1000米，实现环境空气监测中低检测下限要求。
