1.采用美国NITAR 0.7-4.5X,同轴共焦的光学设计变焦镜头,配上专为光学测量而设计的Sony 1/2″CCD彩色影像系统,将被测工件的表面纹理清晰地显现,轮廓层次分明,无误,高质素镜头;
2.X/Y两轴均装有分辨率为0.001mm的的光学尺测量系统,X/Y轴的量测精密度(3+L/200)um;
3.强大的8段LED环形冷光源,可根据工件所需的照明条件进行光线调节;
4.可通过工作台上的快速释放开关在粗动和微动之间进行切换;
5.工作台铸铁采用天然失效处理,配合瑞士SCHNEEBERGER导轨,具有;
6.完善的自动寻边界及去毛刺功能,减少人为误差,测量效率;
7.测量数据可输出到DXF\BMP\Excel\Word文档,图形可输出到CAD;
8.可视化编程,用户可根据导入的DXF文件进行编程,适用于批量检测;
9.图文并茂的报表输出功能,用户可以轻松的输出检测结果;
10.可升级Z轴非接触测量高度、深度、平面度。
其他说明
仪器型号 | QI-A2010 | QI-A3020 | QI-A4030 |
QI-B2010 | QI-B3020 | QI-B4030 | |
X/Y/Z 测量行程 | 200*100*150mm (调焦) | 300*200*200mm (调焦) | 400*300*250mm (调焦) |
外形尺寸 | 1000*600*1400mm | 1200*720*1600mm | 1200*720*1600mm |
载物台承重 | 15KG | ||
光栅尺分辩率 | 0.001mm(可选0.0001mm) | ||
线性 | (3+L/200)um , L= 测量长度(单位: mm ) | ||
重复性 | 2um | ||
镜头系统 QI-A | 桂林光学 多段倍率同轴共焦光学设计镜头 | ||
镜头系统 QI-B | 美国 NITAR 多段倍率同轴共焦光学设计镜头 | ||
影像系统 QI-A | 高解析度台湾 MINTORN 1/2″ 彩色摄像机 | ||
影像系统 QI-B | 高解析度日本 SONY 1/2″ 彩色摄像机 | ||
放大倍率 | 光学放大倍率 0.7-4.5X ,影像放大倍率 19 - 180X | ||
操作方式 | 手动 | ||
仪器重量 | 100KG | 120KG | 200KG |