AS-300反射率测试仪器是一款高反射率测试仪器，可测量整体反射率值，反射率光谱。操作方便快捷，适用与偏光片反射率测试，ITO薄膜反射率测试，TouchPannel反射率测试，导光板镀膜膜厚测试，Low-e玻璃反射率测试，汽车车灯镀膜膜厚测试等。
仪器功能：
AS-300反射率测试仪器光谱测量在波长范围内进行反射度能量的图谱扫描，并可进行各种数据处理如峰谷检测、导数运算、谱图运算等。•数据输出可进行数据文件和参数文件的存取，测量结果以标准通用的数据文件格式输出
AS-300反射率测试仪器技术参数
波长：0.2nm
校正线性度：99.8%
测量误差：1%以下
单次测量时间：小100ms
功耗：200W
电源：210~245V，60Hz
信号接口：U2.0
操作系统：windows
波长范围：200-1100 nm
数输速率：每4ms 一个全扫描入存储器（U2.0接口），18ms（U1.1）
每300ms 一个全扫描入存储器（串行口）
探测器：3648像素的线型硅CCD 阵列 8um×20um
光栅：14种光栅，波长从紫外到近红外
积分时间：10um〜65min
入射孔径：宽5，10，25，50，100或200um 的狭缝或光纤（无狭缝）
光纤连接：SMA905接口，与0.22NA 的单股光纤相连
各类滤波片：长波通或带通滤波片，安装在光谱仪内
电子控制：8个数字GPIO 接口电子快门控制（短10um）
焦距：42 mm（输入），68 mm（输出）
光学分辨率：0.3 nm FWHM（与光栅和狭缝宽度的选择有关）
动态范围：2×108（系统），1300：1（单个扫描信号）
AS-300反射率测试仪器主要特点：
•设计的优良的光学系统，的全息闪耀光栅，了仪器的低杂。
•双光束测光系统，配合设计的电路测控系统。使仪器具有高度的稳定性和
低的噪声。
全自动的控制系统，的设计理念，仪器具有高性和高稳定性。
•可拆卸结构的样品室设计，易于更换不同的附件。以满足不同的分析需求。
•宽敞型开放式光源室设计，使灯源更换更加方便。
•部件均选用器件。了仪器性能的高性。
•windows 环境下开发的中英文操作软件，具有多项技术。提供了丰富的特色的分析功能。
仪器功能：
AS-300反射率测试仪器光谱测量在波长范围内进行反射度能量的图谱扫描，并可进行各种数据处理如峰谷检测、导数运算、谱图运算等。•数据输出可进行数据文件和参数文件的存取，测量结果以标准通用的数据文件格式输出
AS-300反射率测试仪器技术参数
波长：0.2nm
校正线性度：99.8%
测量误差：1%以下
单次测量时间：小100ms
功耗：200W
电源：210~245V，60Hz
信号接口：U2.0
操作系统：windows
波长范围：200-1100 nm
数输速率：每4ms 一个全扫描入存储器（U2.0接口），18ms（U1.1）
每300ms 一个全扫描入存储器（串行口）
探测器：3648像素的线型硅CCD 阵列 8um×20um
光栅：14种光栅，波长从紫外到近红外
积分时间：10um〜65min
入射孔径：宽5，10，25，50，100或200um 的狭缝或光纤（无狭缝）
光纤连接：SMA905接口，与0.22NA 的单股光纤相连
各类滤波片：长波通或带通滤波片，安装在光谱仪内
电子控制：8个数字GPIO 接口电子快门控制（短10um）
焦距：42 mm（输入），68 mm（输出）
光学分辨率：0.3 nm FWHM（与光栅和狭缝宽度的选择有关）
动态范围：2×108（系统），1300：1（单个扫描信号）
AS-300反射率测试仪器主要特点：
•设计的优良的光学系统，的全息闪耀光栅，了仪器的低杂。
•双光束测光系统，配合设计的电路测控系统。使仪器具有高度的稳定性和
低的噪声。
全自动的控制系统，的设计理念，仪器具有高性和高稳定性。
•可拆卸结构的样品室设计，易于更换不同的附件。以满足不同的分析需求。
•宽敞型开放式光源室设计，使灯源更换更加方便。
•部件均选用器件。了仪器性能的高性。
•windows 环境下开发的中英文操作软件，具有多项技术。提供了丰富的特色的分析功能。
