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反射率测试(AS-Solar5000)
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反射率测试(AS-Solar5000)

产品价格:
电议
产品型号:
AS-Solar5000
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
深圳市三经伟创电子科技有限公司
所属地区:
发布时间:
2014/3/6 20:28:28

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企业档案

深圳市三经伟创电子科技有限公司

企业未认证营业执照未上传

经营模式:工厂

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  AS-Solar5000光源发出的光通过光纤和反射式积分球(InterSphere)在物体表面发生漫反射被设计的积分器收集,再通过积分球另外的一个接口送到分光光度计。不管样品表面是绒面还是抛光的,的反射光和散射光都会被测量到。整体反射率用来测量制绒后和镀膜后硅片的反射率。通过标准逻辑运算计算出您想要的颜色值xyY等
  AS-Solar5000积分球的使用可以避免光谱仪的饱和,它的内表面是的漫反射,具有均匀的空间均匀的空间反射特性,测量可以0.1%。
  测量步骤,先收集外部环境光的光强,再将标准片置于积分球的采样口测量存为参考,后将待测样品置于采样口测量,软件会自动计算出反射比R%。
  
  光谱仪:ASspec-UV/VIS高紫外灵敏度光谱仪(200-1100nm)
  光源:ASLight-HAL卤钨灯
  光纤:FC-UV/VIS 谱段 FC光纤
  积分球:ASsphere-50积分球,8度角采样
  AS-Solar5000是一款方便实用的绒面抛光面硅片反射率测试仪器,系统使用简单,无需操作人员有的技能用户可以在移动的硅片上进行连续性测量,也可以测量硅片上的固定点。可自动生成测试及数据存储,用户可自定义反射率值,小值门限设置。可自定义测量波长范围,仪器配备标准参考片。
  *积分球式整体反射率测量
  *反射率波长
  *自动生成
  *平均反射率测量
  *颜色计算。
  
  规格
  测量
  测量参数反射率光谱/膜厚/颜色
  反射率范围 0~100%
  波长范围 200~1100 nm
  反射率&plun;0.1%
  反射率重复性*<0.05%
  颜色测量 XYZ
  硬件
  测量几何积分球(角度反射光的测量)
  测量光斑~8 mm
  测量速度<1 s/point
  硅片大小 156 x 156mm/125 x 125mm
  样品台 320 x 320mm
  环境温度:15-35°C(50-90°F),
  湿度:<90%(non-condensing)
  电源 AC 100~240V;50/60 Hz
  PC/软件
  测量功能整体反射率测量/小反射率波长定位/颜色/膜厚
  PC 要求 Windows XP,2GB RAM.

联系方式

深圳市三经伟创电子科技有限公司

联系人:
传真:
86-755-28531865
类型:
工厂
地址:
中国广东省深圳市布龙路上水径德勤创大厦12楼1205室

服务热线

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