SH-200系列粒子检查显微镜是配置了研究级平场消色差金相物镜，观察图像更锐利，图面平坦度处理更好，图像还原性好不失真。尤其是在显微观察及显微拍照方面SH-200系列金相显微镜更有出色表现，是显微拍照及视频观察理想的金相显微镜。SH-200系列金相显微镜出色的光学性能及观察效果使其在金相试样、材料分析、样品微切片、微电子检查、半导体、晶圆片、LCD及液晶显示屏检查等得到广泛应用，是科研及实验室常用的仪器之一。
性能特点：
1.SH-200金相显微镜采用无限远色差校正光学系统，图像质量好，分辨率更高，观察更舒适。
2.长工作距离平场消色差物镜，对焦快捷，适用性更广，图像更清晰、像面平坦还原性好。
3.SH-200金相显微镜配备了高眼点平场大视野目镜（视场数22mm）。
4.照明系统配置了透反射照明器，反射采用LED冷光源，观察更柔和舒适，寿命更长。
5.光学系统内置可调节视场光栏、孔径光栏，观察细微组织结构更清晰、衬度更好。
6.照明光路可加入起偏镜和检偏可进行偏光观察。
应用范围：
1.半导体、IC微电路、芯片、LCD液晶、晶圆片
2.金属、矿物试样，表面缺陷。
3.晶体表面纹路。
4.半导体封装检查。
5.透明或不透明工业试样
性能特点：
1.SH-200金相显微镜采用无限远色差校正光学系统，图像质量好，分辨率更高，观察更舒适。
2.长工作距离平场消色差物镜，对焦快捷，适用性更广，图像更清晰、像面平坦还原性好。
3.SH-200金相显微镜配备了高眼点平场大视野目镜（视场数22mm）。
4.照明系统配置了透反射照明器，反射采用LED冷光源，观察更柔和舒适，寿命更长。
5.光学系统内置可调节视场光栏、孔径光栏，观察细微组织结构更清晰、衬度更好。
6.照明光路可加入起偏镜和检偏可进行偏光观察。
应用范围：
1.半导体、IC微电路、芯片、LCD液晶、晶圆片
2.金属、矿物试样，表面缺陷。
3.晶体表面纹路。
4.半导体封装检查。
5.透明或不透明工业试样
其他说明
| 技术规格(标准配置) | ||
| 目镜 | 大视野WF10X(视场数Φ 22mm) | |
|
长工作距平 场消色差物镜 |
LWDPlan5X/0.14 工作距离:20.5 mm | |
| LWDPlan10X/0.25 工作距离:16.0mm | ||
| LWDPlan20X/0.40 工作距离:7.8mm | ||
| LWDPlan50X/0.55 工作距离:8.0 mm | ||
| 目镜筒 | 30? 倾斜, 瞳距调节范围53~75mm. | |
| 调焦机构 | 粗微动同轴调焦, 带锁紧和限位装置, 微动格值: 1μ m. | |
| 转换器 | 五孔(内向式滚珠内定位) | |
| 载物台 | 双层机械移动式载物台, 外形尺寸: 210mmX140mm, 移动范围: 75mmX50mm. | |
| 照明系统 | 反射照明器 | 低功耗长寿命3W LED灯,亮度可调 |
| 照明器 | 6V30W卤素灯,亮度可调 | |
