特点及用途:
>为科研和工业应用设计,用于各类纳米材料测量表征;一体化结构设计,配有的震系统;
>集成接触模式和动态力模式原子力显微镜、摩擦力显微镜功能;
>多通道图像同步采集显示,实时观测形貌图、摩擦力图、振幅图等;
>定点实时测试F-Z曲线、f-RMS曲线、RMS-Z曲线等多种曲线功能;
>设置“扫描频率上限”功能,可限制快扫描频率,保护探针
>图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前工作环境参数同步保存功能;
>配备二维微米移动平台,快速搜索样品区域;
>高探针-样品定位系统,直接定位到CCD(选配)任意可视的区域进行扫描;
>可增配模式:磁力、相位和静电力。