电子塞规
用于各种孔的精密测量。配套电子柱或小型微机电箱（多套测量头配置一台电箱）。
主要技术性能：
1.被测孔径范围：φ5～φ120
2.被测孔径差值：&plun;0.15
3.示值变动性（σ为被测公差带）：≤σ／10
4.测量力：0.6～0.9N
电子卡规：
用于各种外径（外尺寸）的精密测量。配套电子柱或小型微机电箱（多套测量配置一台电箱）。
主要技术性能：
1.被测轴径范围：φ10～φ120
2.与被测件接触的材料：硬质合金
3.示值变动性（σ为被测公差带）：≤σ／10
4.测量力：1.0～1.2N
用于各种孔的精密测量。配套电子柱或小型微机电箱（多套测量头配置一台电箱）。
主要技术性能：
1.被测孔径范围：φ5～φ120
2.被测孔径差值：&plun;0.15
3.示值变动性（σ为被测公差带）：≤σ／10
4.测量力：0.6～0.9N
电子卡规：
用于各种外径（外尺寸）的精密测量。配套电子柱或小型微机电箱（多套测量配置一台电箱）。
主要技术性能：
1.被测轴径范围：φ10～φ120
2.与被测件接触的材料：硬质合金
3.示值变动性（σ为被测公差带）：≤σ／10
4.测量力：1.0～1.2N
