HLTC-128半导体分立器件高低温老化巡测系统

　　产品说明：
　　一、系统组成
　　1.巡测控制器
　　2.128管位老化插座板
　　3.Espec高低温箱（自选）
　　
　　二、巡测控制器的原理框图如下：
　　巡测控制仪有手动和程控两种使用方式。手动方式通过控制器上的按键、程控方式通过计算机串行通讯口来控制矩阵板上的继电器闭合，将B、C、E分配到第N个被测器件上。
　　巡测控制器的使用方法如下图所示：
　　
　　三、Espec高低温箱（用户自选）
　　高低温范围-55度-＋155度
　　四、使用范围
　　本巡测控制器主要用于半导体分立器件在高低温环境下的电性能检测。目前，许多的厂家对器件的质量越来越重视，购进了一些高低温的设备，但是，在进行测试时，却是将被测试器件从高低温箱中拿出来，然后再进行测试，这个过程持续的时间虽然不长，可是被测器件的温度已然有了变化，温度环境的变化导致测试数据的偏移，巡测控制器可以解决上述的问题，器件是在设定的温度环境中进行时实测试。
　　
　　五、仪器尺寸 422 X 296 X 56 mm 重 2kg
　　六、使用说明
　　本控制器有自动和手动两种控制方式。如果用户需要和图示仪进行连接，通常采用手动控制方式，因为DUT的合格与否，需要操作人员观察图示仪，然后加以判断，不采用自动方式。如果用户希望购买BC3193分立器件测试仪，则可以采用自动方式进行操作，并且测试的结果可以自动纪录，方便，推荐采用该方式进行操作。
　　巡测控制器由两部分组成：控制器和老化插座板。
　　控制器内置MCU，由他发出控制信号，控制继电器矩阵，将测试信号逐个切换到被测器件，以便对器件进行测试。
　　插件盒包含了继电器矩阵、其他一些控制，以及一个可以128个被测试器件的测试老化板，使用时用户可以将被测试器件成批老化板，然后放入高低温箱中，连接好电缆，待温度环境合适时，便可以由控制器进行控制逐个将被测试器件测试完。
　　老化板上的插座有多种样式，可以满足用户测试各种封装的分立器件。