SFT9400系列
X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9000系列里的机型「SFT9400系列」搭载有75W高功率X射线管与双检测器（半导测器＋比例计数管），能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“微小面积测量”等镀层厚度测量需求的镀层厚度测量仪。
此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。
窗体
产品特点：
★ 搭载有高功率X射线管及双检测器（半导测器＋比例计数管）
可对应组合复杂的应用程序，是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
能够对Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高的测量
可测量0.01μm以下的的Au镀层厚度
★搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域
★适用微小面积的测量
标准配备的15μmΦ的准直器，可对微小面积进行测量。
★搭载了可3段切换的变焦距光学系统
★拥有冲撞功能
★搭载高样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455）
★搭载激光对焦系统
★搭载测试自动生成软件
X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9000系列里的机型「SFT9400系列」搭载有75W高功率X射线管与双检测器（半导测器＋比例计数管），能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“微小面积测量”等镀层厚度测量需求的镀层厚度测量仪。
此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。
窗体
产品特点：
★ 搭载有高功率X射线管及双检测器（半导测器＋比例计数管）
可对应组合复杂的应用程序，是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
能够对Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高的测量
可测量0.01μm以下的的Au镀层厚度
★搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域
★适用微小面积的测量
标准配备的15μmΦ的准直器，可对微小面积进行测量。
★搭载了可3段切换的变焦距光学系统
★拥有冲撞功能
★搭载高样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455）
★搭载激光对焦系统
★搭载测试自动生成软件
