X射线荧光镀层厚度测量仪（SFT9400系列）

　　产品副名称：可满足度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪
　　产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455

　　产品特点：
　　★搭载有高功率X射线管及双检测器（半导测器＋比例计数管）
　　可对应组合复杂的应用程序，是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
　　能够对Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
　　对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高的测量
　　可测量0.01μm以下的的Au镀层厚度
　　★搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
　　对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域
　　★适用微小面积的测量
　　标准配备的15μmΦ的准直器，可对微小面积进行测量。
　　★搭载了可3段切换的变焦距光学系统
　　★拥有冲撞功能
　　★搭载高样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455）
　　★搭载激光对焦系统
　　★搭载测试自动生成软件
　　
　　产品特征：　　
　　为了对应电子工业当中越来越复杂的镀金工艺而设计，是在以往的SFT9300的基础上升级的产品。他继承了SFT9300的75W高功率X射线管，还配备双检测器（半导测器＋比例计数管）。是SFT9000系列里的机型，能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“微小面积测量”等镀层厚度测量需求的镀层厚度测量仪。此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。

　　产品介绍：
　　SFT9400系列产品规格
　　型号：SFT9400／SFT9450／SFT9455
　　仪器的：微小面积对应及型
　　可测量元素：原子序号22（Ti）～83（Bi）
　　X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（Mo靶）
　　管电压：50kV管电流：1.5mABe窗
　　滤波器：滤波器：Mo-自动切换
　　二次滤波器：无
　　照射方式:上方垂直照射方式
　　检测器:半导测器＋比例计数管（不需液氮的检测器）
　　仪器校正:自动校正＋手动校正
　　准直器（标准配置）:○型（4种）
　　性能:样品室门锁，样品冲撞功能
　　样品图像对焦:有（激光对焦）
　　样品观察:CCD摄像头＋倍率光学器＋卤素灯照明
　　焦点切换功能:3段切换9400：10／40／70mm
　　9450：10／25／40mm
　　X-rayStation  台式电脑
　　（OS；MS-WindowsXP®）
　　打印  喷墨打印机
　　应用  单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍
　　软件  块体FP法软件、薄膜FP法软件
　　测量功能：自动测量、中心搜索、图像识别处理
　　修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正
　　统计处理功能：MS-EXCEL®
　　制作功能：MS-WORD®