■于半导体静电能力（静电敏感度D）测试：
§可测试各类型的发光二管（LED），选配不同的测试板可测试常见的直插式、各种贴片式的LED，以及裸晶，食人鱼等等。
§可测试各类电路集成块（IC），选配各种封装的测试板，能满足测试各类IC，如MCU的IO与Vcc、GND，以及各引脚之间的D敏感度；
§可测试各类CMOS，稳压管，三管等等半导体元器件的D能力；
■台湾原装，合国际相关的D放电测试标准：
§ANSI/D STM-5.1 国际静电协会
§MIL-STD-883 F 美国军方标准
§JD22-A114D 国际固态协会标准
§人体模式HBM：100Pf —1500Ω
§机械模式MM:：200Pf—0Ω
■宽量程，全自动升压：
§人体模式HBM：0——10000V
§机械模式MM：0——1000V
§全自动跳升电压，至被测器件静电击损出现回路漏电便自动停止，显示击穿电压；可预设4档跳升步伐电压，以及始测电压。
§实时电压显示，回路击穿漏电自动探测，自动报警；
■操作简单，
§一键式完成测试功能，无需繁杂设置；
§操作，任何误操作会对操作者有伤害
