特性
●全自动化量测设计
●使用者可自行与标准样品做校正，无须负担庞大的校正费用
●软体可配合使用者的习惯或需要做部分修改
●可产生各种使用者所单色光谱光源及功率
●采用CIE 1931，和CIE1976 U.C.S标准及演等方法
●可逹小数点4位小数的高测量仪，操作介面简单、外形小巧等特点。
●能测量不同形式的LED，例如LED Chip，SMD，Lamp，Module，LED Display.
量测范围
光谱仪的波长范围：350nm–1050nm
波长间隔：0.5nm
辐射强度：0–5000mW／sr±5％
色度座标：±0.000
●全自动化量测设计
●使用者可自行与标准样品做校正，无须负担庞大的校正费用
●软体可配合使用者的习惯或需要做部分修改
●可产生各种使用者所单色光谱光源及功率
●采用CIE 1931，和CIE1976 U.C.S标准及演等方法
●可逹小数点4位小数的高测量仪，操作介面简单、外形小巧等特点。
●能测量不同形式的LED，例如LED Chip，SMD，Lamp，Module，LED Display.
量测范围
光谱仪的波长范围：350nm–1050nm
波长间隔：0.5nm
辐射强度：0–5000mW／sr±5％
色度座标：±0.000
