BC3193半导体分立器件测试系统
测试系统用途及主要测试对象：二管，三管，可控硅，场效应管，（IGBT）缘栅双三管，达林顿矩阵，单结晶体管，光敏二管，光敏三管，光电耦合器，固态继电器等，DC／DC模块参数测试仪，MOS测试仪，三管开关时间测试仪。
二管及整流桥：VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻。
三管：BVCBO、BVCEO、BVCER、BVC、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、IC、IEBO、VC、VB、HFE.
可控硅：IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR.
场效应管：BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO、IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、gm.
达林顿管：VCAT、ICEO.R.S、IEBO、HFE、VBAT、BVCEO.IGBT、BVCGR、BVG、TG、VCT、VGETH.
光电耦合器：VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、R、VCAT.
＊测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。
＊测试原理合相应的标准，标准和行业标准。
＊采用脉冲法测试功率参数，合国军标并的抑制测试温生。
＊采用Kelvin测试原理，排除线路电阻及接触电压，使大电流的参数测试更准。
测试系统用途及主要测试对象：二管，三管，可控硅，场效应管，（IGBT）缘栅双三管，达林顿矩阵，单结晶体管，光敏二管，光敏三管，光电耦合器，固态继电器等，DC／DC模块参数测试仪，MOS测试仪，三管开关时间测试仪。
二管及整流桥：VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻。
三管：BVCBO、BVCEO、BVCER、BVC、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、IC、IEBO、VC、VB、HFE.
可控硅：IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR.
场效应管：BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO、IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、gm.
达林顿管：VCAT、ICEO.R.S、IEBO、HFE、VBAT、BVCEO.IGBT、BVCGR、BVG、TG、VCT、VGETH.
光电耦合器：VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、R、VCAT.
＊测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。
＊测试原理合相应的标准，标准和行业标准。
＊采用脉冲法测试功率参数，合国军标并的抑制测试温生。
＊采用Kelvin测试原理，排除线路电阻及接触电压，使大电流的参数测试更准。
