大功率分立器件开关时间测试系统

　　BC3193半导体分立器件测试系统
　　系统用途
　　BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的设备，用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、性分析测试
　　系统特点
　　◆PC机为系统的主控机
　　◆菜单式测试程序编辑软件操作简便
　　◆预先连接测试自动识别NPN/PNP
　　◆0～&plun;2000V程控高压源
　　◆&plun;1000A程控高流源
　　（外接高流台可扩充到&plun;1000A）
　　◆测试漏流小分辨率达6.1pA
　　◆四线开尔文连接加载测量的准确
　　◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递计量标准对系统进行校验
　　◆Prober接口、Handler接口可选（16Bin）
　　◆可为用户提供丰富的测试适配器
　　
　　测试对象
　　二管/稳压管/恒流二管/整流桥/瞬态抑制管：  BVR、IR、VF、VZ、RZ
　　三管：BVCBO、BVCEO、BVC、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、IC、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBAT、VCAT
　　可控硅：  BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、
　　IH、IL、VGT、VON
　　场效应管：  BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS（on）、VDS（on）、VGS、VGS（th）、VP
　　IGBT：  BVC、BVCGR、BVG、IC、IG、VCAT、VGETH、VGS（off）
　　达林顿矩阵：ICEX、IIN（ON）、IIN（Off）、VIN（on）、IR、VCAT、BVR、HFE、ICEO
　　单结晶体管：Iv、VV、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2
　　光敏二、三管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE
　　光耦（输出类型：二管、三管、可控硅、MOSFET）：  R、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBAT、VCAT、IR、IAKF、IAKR（加时间测量选件Tr、TF、Toff、Ton）
　　固态继电器：IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von
　　硬件基本配置
　　主控计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上；
　　计算机PCI接口板（CPUINT）一块；系统接口板（SYSINT）一块（含GPIB接口）；
　　数据采集板（VM）一块；
　　40A/30V程控电流电压源（VIS）二块；
　　&plun;2000V程控电压源（HVS）一块；
　　电流/电压转换板（IVC）一块；
　　电源控制板（PWC）一块；
　　测试台矩阵板（STATION）一块；
　　自检模板2个；
　　测试适配器4个（二管、TO-92、TO-3、TO-220）