该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业电子组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、件接脚氧化试验。
产品特点:
1.脑温度控制器P.I.D.+P.W.M.+S.S.R.控制LED数字显示。
2.白金温度感知器(PT-100)与的温度可控制解析能力0.1C.
3.蒸汽试验目标温度设定控制/蒸汽试验运转计时时间设定控制。
4.全自动保护装置、双重高温保护/蒸汽用水断水空焚保护装置。。
主要技术参数:
测试槽尺寸:92*285*40(W*D*H)mm 3/4SET
加热时间:RT~98℃About50min
温度稳定度:±0.3℃
内箱材质:304﹟不锈钢
外箱材质:烤漆涂装
合标准:GB、ISO、ASTM、UL、CEN…