选用平面平晶——随机附赠光带检测参照图
用途：
机械密封件、光学件、平台、平板、导轨等高平面件的平面检测。
功率：20W 电源：220V／50Hz 灯源照射
平面平晶规格φ60＊20mmφ80＊20mmφ100＊25mm
φ150mm以上属非标立品需订做
平面平晶产品特点
＊平面平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。
＊平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高的平面件，例如，平面光学件、平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。
用途：
机械密封件、光学件、平台、平板、导轨等高平面件的平面检测。
功率：20W 电源：220V／50Hz 灯源照射
平面平晶规格φ60＊20mmφ80＊20mmφ100＊25mm
φ150mm以上属非标立品需订做
平面平晶产品特点
＊平面平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。
＊平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高的平面件，例如，平面光学件、平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。
