•测量原理
-斜角入射干涉
•非接触式检测
-无破坏,无污染,不变形
•准确
-提供测量
•快速反应3~5秒出结果
-允许快速显影,进行工艺监控
-在制造中如出现质量问题,可快速停止操作,不良品的出现
•灵活易操作,检测品无
•快速提供的N次微观计检测
•NIST跟踪系统进行校准和确认反常信号
-在临界处也能检测数据的完整
•多功能用途
-在实验室或车间进行较宽物体的平坦度检测
-扩散表面无问题
-30μm动态范围(定单延伸范围~100μm)
•广泛的应用范围:
-半导体行业——晶圆(Si,SiC,砷化镓,蓝宝石,氮化镓),磁盘,光罩等;
-工业——燃料器(喷油嘴),滚动轴承,离合器,密封件等;
•多种被测物材料
-陶瓷,金属,玻璃,聚合物等
-经研磨,抛光,蚀刻等过程后的部件
•标准测量
-平坦度,谱线轮廓,球面半径等。