智慧型记忆体测试卡
主要规格：
◇ 依据PC Timing方式来进行藉此能够以客观而明确的测试，且直接地呈现测试结果，而直接兼容于PC系统上。
◇ 支援Single／Dual Channel（64 Bits ／128 Bits）支持范围【DDR PC200／PC266／PC333／P00／…】容量【4G Byte】 位宽度：【128 Bit】
◇ 提供Auto Dete的设计
【CPU】─TYPE、ID、SPEED
【CHIP】─TYPE
【DRAM】─容量、频率、CL、Trcd、Trp
【CHANNEL】─SINGLE、DUAL
让使用者可以藉由此功能，可以地自动判读所测试之规格条件。
◇ 提供Test Pattern Seleable的设计让使用者可以自行依照Dram的特性、规格需求，来选择特定之Test Pattern，使本测试卡可以更地分析IC颗粒的好坏。
◇ 提供Loop Test的设计
由于Dram颗粒的温度特性及生产方式之不同，为Dram Module稳定工作于PC System，
而设计Loop Test。藉由重复的测试，使待测记忆模块之温升能其运作正常动作。
主要规格：
◇ 依据PC Timing方式来进行藉此能够以客观而明确的测试，且直接地呈现测试结果，而直接兼容于PC系统上。
◇ 支援Single／Dual Channel（64 Bits ／128 Bits）支持范围【DDR PC200／PC266／PC333／P00／…】容量【4G Byte】 位宽度：【128 Bit】
◇ 提供Auto Dete的设计
【CPU】─TYPE、ID、SPEED
【CHIP】─TYPE
【DRAM】─容量、频率、CL、Trcd、Trp
【CHANNEL】─SINGLE、DUAL
让使用者可以藉由此功能，可以地自动判读所测试之规格条件。
◇ 提供Test Pattern Seleable的设计让使用者可以自行依照Dram的特性、规格需求，来选择特定之Test Pattern，使本测试卡可以更地分析IC颗粒的好坏。
◇ 提供Loop Test的设计
由于Dram颗粒的温度特性及生产方式之不同，为Dram Module稳定工作于PC System，
而设计Loop Test。藉由重复的测试，使待测记忆模块之温升能其运作正常动作。
