●可根据用户要求制作单面，双面I测试治具。
●采用探针：INGUN、E、QA、E、CCP、日本电针等，任意选择；
●结构材料采用压克力、电木板、玻纤板、布纹板、铁板等；
●结构框架可选用铁框：美观、耐用、静电、可循环使用；
●天板采用双层结构、四轴定位，压棒下压正确不易压到件；
●采用缩孔技术，探针精准度；
●可安装HP Test Jet功能之感应板及放大器，及测试JET I SCAN功能；
●上下模植针，上下模定位采用直线轴承定位，定位、耐用，上下模之间的转接可采用探针或排线转接；
●电容性测试大电容反插、开关探针测试排插反向、有无。
●采用探针：INGUN、E、QA、E、CCP、日本电针等，任意选择；
●结构材料采用压克力、电木板、玻纤板、布纹板、铁板等；
●结构框架可选用铁框：美观、耐用、静电、可循环使用；
●天板采用双层结构、四轴定位，压棒下压正确不易压到件；
●采用缩孔技术，探针精准度；
●可安装HP Test Jet功能之感应板及放大器，及测试JET I SCAN功能；
●上下模植针，上下模定位采用直线轴承定位，定位、耐用，上下模之间的转接可采用探针或排线转接；
●电容性测试大电容反插、开关探针测试排插反向、有无。
