X-3000是一种体现X射线荧光分析技术新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机技术规格：
1、激发源：本机采用低功率X射线管（Mo靶），电压可达50KV，电流1mA
2、高压电源：50W，50KV，1mA
3、探测器：电制冷SiPIN半导体探测器（对MnKa线，分辨率230KeV）
4、多道分析器：2048道
5、软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。
6、电源：交流220V 50Hz
7、体积：520mmx600mmx270mm
8、重量：约42kg（主机）
整机技术性能：
1、测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量
2、可测量含量范围，从ppm至100％
3、测量速度快，通常为几十秒到几分钟
4、多元素同时定性定量
5、蜂位漂移：八小时小于0.1％
探测器的性能指标
1、探测器类型：电制冷Si-PIN
2、探测面积：2.4x2.8mm（7mm2）
3、硅活化区厚度：300um
4、能量分辨率：对于55Fe，＠5.9keV对于12us的形成时间，半高宽为220Ev
5、探测器窗口：铍窗，25um厚
高压电源规格：
1、电压和电流从至满量程连续可调，50KV，1mA
2、电压调整率：
负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的0.01％
线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01％
3、电流调整率：
负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01％
线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01％
4、稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不0.05％
5、温度系数：温度变化一度，电压变化不过0.01％
整机技术规格：
1、激发源：本机采用低功率X射线管（Mo靶），电压可达50KV，电流1mA
2、高压电源：50W，50KV，1mA
3、探测器：电制冷SiPIN半导体探测器（对MnKa线，分辨率230KeV）
4、多道分析器：2048道
5、软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。
6、电源：交流220V 50Hz
7、体积：520mmx600mmx270mm
8、重量：约42kg（主机）
整机技术性能：
1、测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量
2、可测量含量范围，从ppm至100％
3、测量速度快，通常为几十秒到几分钟
4、多元素同时定性定量
5、蜂位漂移：八小时小于0.1％
探测器的性能指标
1、探测器类型：电制冷Si-PIN
2、探测面积：2.4x2.8mm（7mm2）
3、硅活化区厚度：300um
4、能量分辨率：对于55Fe，＠5.9keV对于12us的形成时间，半高宽为220Ev
5、探测器窗口：铍窗，25um厚
高压电源规格：
1、电压和电流从至满量程连续可调，50KV，1mA
2、电压调整率：
负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的0.01％
线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01％
3、电流调整率：
负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01％
线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01％
4、稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不0.05％
5、温度系数：温度变化一度，电压变化不过0.01％
