采用面阵列模式研发的高亮度光源,透过其被测物投射到光源上,从而能清晰地提取出外形轮廓特征。
二、应用领域:
1、各类电子元器件;
2、IC的外型检测;
3、透明物体表面或者内部划痕检测等;
4、产品的外形轮廓识别及尺寸测量。
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