一、产品特点：
※支持热拔插，可直接插读卡器与电脑连接测试。
※同时兼容：东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk（新帝）等同样封装的IT、8BIT eMMC 闪存记忆体。如图示（相应PIN脚定义一样）；
※同时兼容 169-FBGA 153-FBGA，不同尺寸IC（11.5x13，12x16，12x18，14x18mm），可自行更换限位框实现通用性降低使用成本。
※采用日本双头探针，性能稳定使用寿命长，使用寿命是同类产品的10；
※维护方便，不良探针可更换，重复利用率较高，降低使用成本。
※兼容有球无球测试，通用性好，降低使用成本。
※采用手动翻盖式结构，操作方便简单。
※采用浮板结构，定位，取放IC方便，工作效率更高。
※可进行测试和格式化。
二、测试
（1）选择和IC尺寸相同的限位框按方向装在浮板上（标配限位框为 14X18，11.5X13 12X16 12X18）
（2）把IC按方向平放入限位框内，合上socket上盖。
（3）选择相对应的电压，本测试治具默认电压为3.3V，如果要求为1.8V请把跳帽到2〜3位置，
（4）选择和IC相应的位数，本测试治具默认值位8BIT，如果是IT的，请把四位开关拨到OFF位置，
（5）把eMMC 夹具按方向插在读卡器上，打开相应的测试软件进行测试。
※支持热拔插，可直接插读卡器与电脑连接测试。
※同时兼容：东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk（新帝）等同样封装的IT、8BIT eMMC 闪存记忆体。如图示（相应PIN脚定义一样）；
※同时兼容 169-FBGA 153-FBGA，不同尺寸IC（11.5x13，12x16，12x18，14x18mm），可自行更换限位框实现通用性降低使用成本。
※采用日本双头探针，性能稳定使用寿命长，使用寿命是同类产品的10；
※维护方便，不良探针可更换，重复利用率较高，降低使用成本。
※兼容有球无球测试，通用性好，降低使用成本。
※采用手动翻盖式结构，操作方便简单。
※采用浮板结构，定位，取放IC方便，工作效率更高。
※可进行测试和格式化。
二、测试
（1）选择和IC尺寸相同的限位框按方向装在浮板上（标配限位框为 14X18，11.5X13 12X16 12X18）
（2）把IC按方向平放入限位框内，合上socket上盖。
（3）选择相对应的电压，本测试治具默认电压为3.3V，如果要求为1.8V请把跳帽到2〜3位置，
（4）选择和IC相应的位数，本测试治具默认值位8BIT，如果是IT的，请把四位开关拨到OFF位置，
（5）把eMMC 夹具按方向插在读卡器上，打开相应的测试软件进行测试。
