—用途—
SAIS型冲击试验台可供试验产品做冲击试验，主要提供给小型试件作较高冲击加速度试验用。考核试品承受冲坏的程度。常应用于电子元器件，电子线路板等环境试验，本试验设备合《电工电子产品基本环境试验规范Ea：冲击试验方法》及《IEC68-2-27，试验Ea：冲击》和《MIF-STD202F》
规范对冲击试验的要求。
—性能，特点—
SAIS型冲击试验台面尺寸较小，台面结构经过有限元优化分析后精心设计，结构强度大，频率响应高，通过高加速度冲击试验，能0。3ms的加速度持续时间，冲击半正弦波形合试验规范。
内置二次冲击装置，台体配置减振装置，冲击高度数字设定，自 动执行。
SAIS型冲击试验台可供试验产品做冲击试验，主要提供给小型试件作较高冲击加速度试验用。考核试品承受冲坏的程度。常应用于电子元器件，电子线路板等环境试验，本试验设备合《电工电子产品基本环境试验规范Ea：冲击试验方法》及《IEC68-2-27，试验Ea：冲击》和《MIF-STD202F》
规范对冲击试验的要求。
—性能，特点—
SAIS型冲击试验台面尺寸较小，台面结构经过有限元优化分析后精心设计，结构强度大，频率响应高，通过高加速度冲击试验，能0。3ms的加速度持续时间，冲击半正弦波形合试验规范。
内置二次冲击装置，台体配置减振装置，冲击高度数字设定，自 动执行。
