杭州维勘科技公司联合中国光学研究机构浙江大学光电系，历经4年，研发成功了光纤跳线端面干涉仪。它依据国际电工委员会（IEC）标准，能够准确地检测光纤端面的曲率半径、光纤高度和顶点偏移等参数，为您在生产跳线的过程中提供研磨参数的调整，更能为您完成产品终检，使之合国际厂商的采购需求，为您带来丰厚利润。
产品特点有：
1.产品测量由中国计量标准（中国计量科学研究院）检测，测试结果。
2.产品复现性和重复性，测试结果的真实。
3.产品干扰性能良好，无需隔振措施。
4.快速便捷的售后服务，24小时答复，五个工作日内解决问题，维修期间更有备用机服务，让您生产不间断。
以下为本公司产品与国内外两家公司产品的同环境下测量同一插芯的结果比对。可见本公司产品与国外某公司产品的测量值上吻合度高，国内某公司产品由于算法和结构上的问题，测量值与真值偏差较大，容易造成错报和漏报。而重复性和稳定性方面，本公司产品在三种产品中的各项指标均是的。
曲率半径（μm） 顶点偏移（μm） 光纤高度（nm）
国外 维勘 国内 国外 维勘 国内 国外 维勘 国内
平均值 14.7 14.1 12.49 37.4 37.15 32 -38.3 -37.9 -54
重复性 0.06 0.05 0.32 0.22 0.1 1.18 1.4 0.5 5
复现性 0.11 0.1 0.67 7.06 1.4 4.85 2.1 1 10
产品特点有：
1.产品测量由中国计量标准（中国计量科学研究院）检测，测试结果。
2.产品复现性和重复性，测试结果的真实。
3.产品干扰性能良好，无需隔振措施。
4.快速便捷的售后服务，24小时答复，五个工作日内解决问题，维修期间更有备用机服务，让您生产不间断。
以下为本公司产品与国内外两家公司产品的同环境下测量同一插芯的结果比对。可见本公司产品与国外某公司产品的测量值上吻合度高，国内某公司产品由于算法和结构上的问题，测量值与真值偏差较大，容易造成错报和漏报。而重复性和稳定性方面，本公司产品在三种产品中的各项指标均是的。
曲率半径（μm） 顶点偏移（μm） 光纤高度（nm）
国外 维勘 国内 国外 维勘 国内 国外 维勘 国内
平均值 14.7 14.1 12.49 37.4 37.15 32 -38.3 -37.9 -54
重复性 0.06 0.05 0.32 0.22 0.1 1.18 1.4 0.5 5
复现性 0.11 0.1 0.67 7.06 1.4 4.85 2.1 1 10
