冷热冲击试验箱（ST系列）

　　试验箱用途
　　用于电子电器组件、自动化部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，需要它的理想测试工具。
　　
　　冷热冲击试验箱满足标准
　　满足的试验方法
　　1、GB2423.1−89试验A低温试验方法
　　2、GB2423.2−89试验B高温试验方法
　　3、GB2423.22−89试验N温度变化试验方法
　　4、G150.3-86高温试验
　　5、G150.4−86低温试验方法
　　6、G150.5−86温度冲击试验
　　
　　产品执行标准
　　1、GB10589−89低温试验箱技术条件
　　2、GB11158−89高温试验箱技术条件
　　3、GB10592-89高、低温试验箱技术条件
　　
　　冷热冲击试验箱主要技术指标
　　标准机型：50升／80升／108升／150升／252升／300升
　　
　　温度范围：高温箱＋60℃～200℃
　　低温箱−70～−10℃
　　温度波动度：&plun;0.5℃
　　温度误差：≤&plun;2℃
　　升温速率：30℃～＋150℃≤30min
　　降温速率：＋30℃～−70℃≤95min
　　以上指标均在常压、空载条件情况下测试。
　　样品转换时间：≯15s
　　温度恢复时间。
　　
　　1、＋150℃～−40／℃温度冲击恢复时间，≤5min
　　试验状态：预冷温度：−55℃
　　2、−40℃～＋150℃温度冲击恢复时间，≤5min
　　试验状态：预热温度：180℃
　　温度冲击恢复时间以传感器测试位置为准
　　1.9、电源：380V、50Hz；三相五线制。