X-荧光镀层测厚仪CMI900金属镀层厚度的测量
CMI 900系列X射线荧光测厚仪是一种大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包,实现了对CMI900主机的自动化控制。
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