TR Scan在满足测量的同时,也了纳米级,几微秒就可以获得点三维图形。正是因为如此快的速度,消除了因振动带来的误差,由此克服光学测量系统的传统误差。
其测量头可兼容探针(接触式测量),并可与其他光学测量传感器互换使用,复合式的测量解决方案,可检定各种表面结构,应用于各行各业:机械工业(加工表面),汽车,航天航空,表面涂敷,聚合涂层,光学元件,仪器,假肢制造,微型机电系统,造纸,半导体,科研机构以及计量单位。
Trimos®NaWare软件控制测量过程及分析结果。模块化的概念满足不同的要求及持续性开发。NaWare能完成测量结果的分析评估,并能生成的检测。
拥有国际的评价标准程序来实时更新国际标准测量合以下标准:ISO(4287,4288,11562,1101,12085,13563,等),法国标准NF,制造标准CMO,ASME(B46.1)和DIN标准;三维表面特征数据标准ISO 25178系列通用