TT230涂层测厚仪
北京时代TT230涂层测厚仪是一种小型的测量仪。时代TT230涂层测厚仪能快速、伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。TT230测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。TT230氧化膜测厚仪体积小，测头与仪器一体化，适用于工程现场测量。
TT230测厚仪的主要技术指标
测量原理：涡流法
测量范围：1～1250μm
测量：±（3％H＋1.5）μm（点校准）
±［（1～3）％H＋1.5］μm（二点校准）
北京时代TT230涂层测厚仪的主要功能
可进行点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量：平均值（MEAN）、值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。
自动关机功能。
删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的数据，以便进行新的测量。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。
北京时代TT230涂层测厚仪是一种小型的测量仪。时代TT230涂层测厚仪能快速、伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。TT230测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。TT230氧化膜测厚仪体积小，测头与仪器一体化，适用于工程现场测量。
TT230测厚仪的主要技术指标
测量原理：涡流法
测量范围：1～1250μm
测量：±（3％H＋1.5）μm（点校准）
±［（1～3）％H＋1.5］μm（二点校准）
北京时代TT230涂层测厚仪的主要功能
可进行点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量：平均值（MEAN）、值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。
自动关机功能。
删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的数据，以便进行新的测量。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。
