一、产品介绍:该投影仪是冲击试样加工过程备的检测设备,检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的光学仪器。合国际标准GB/T229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》的要求。
二、应用领域:该投影仪是广大冶金、铸造、泵阀、锅炉压力容器、轨道车船、工程机械以及科研等部门理化实验室的备设备。同时,本仪器还可以用于机械部件的外形轮廓,纺织物纤维,生物切片分析,工量刀具的检验,仪表元件和半导体元件的投影检测。
三、CST-50型冲击试样缺口投影仪性能:
技术要求:由于试样V型缺口要求严格,(试样缺口深2mm,呈45度角试样缺口要R0.25&plun;0.025mm),是R0.25mm缺口的微小变化(其公差只有0.25mm),都会引起试验结果的陡跳,尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为了加工出的夏比V型缺口合格,缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。
四、投影仪技术参数:
1、放大倍数:50倍;
2、投影屏直径:200mm
3、工作台行程:纵向&plun;10mm,横向&plun;10mm,升降:12mm;
4、工作台转动范围:0~360°
5、光源(卤钨灯):12V 100W
6、电源:220V 50Hz 150W;
7、外形尺寸:515×224×603mm