DDR2/3 内存测试治具

　　产品特点及性能参数：
　　◆产品通用性高，换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）；
　　◆产品设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，把频率衰减降到，减少误测；
　　◆有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高自适应弹簧每个 IC 平衡下压；
　　◆采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，更高的使用寿命；
　　◆采用台湾厂家生产的内存颗粒测试 PCB，金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的 5倍，测试治具有更好的导通和性，相比同类产品具有更好的频性能及使用寿命；
　　◆采用带定位孔内存颗粒测试 PCB，探针板与 PCB 孔定位，探针与 PCB 定位，如有损坏用户可自行更换维修，简单方便，减少返厂维修，为客户争取宝贵时间；
　　◆采用短双头探针设计，相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高，DDR3系列频率可达 2000MHz；
　　◆探针板采用定位销加螺丝结构，在使用过程中如有探针损坏，客户可自行更换维修，方便维护，为生产争取宝贵时间；
　　◆高合金 IC 定位框， IC 定位，取放 IC 方便，从而测试效率；
　　◆测试寿命长，测试 10万次以上；（视使用环境及相关操作而定）
　　◆内存颗粒测试治具测试规格：DDR2X8 DDR3X8性可测试 8颗内存颗粒；
　　◆可以定制单颗内存 IC 与服务器主控 IC 的测试治具
　　◆可以提供相关的技术支持。

　　产品服务：
　　※该产品用户可自行维修，本公司按提供相关配件；
　　※保修期内，维修（人为损坏、烧坏除外），如果需换件，只收材料成本费。
　　※提供相关的技术支持。