深圳圆融达微电子技术有限公司研发生产各种芯片封装的测试治具，用于检测芯片的功能好坏。
平板电脑内存字库测试治具，适用于BGA芯片的功能测试好坏的验证。
平板电脑内存字库测试治具特点：
1. 座头采用手动翻盖结构，操作灵敏。
2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，IC的压力均匀，不偏移。
3. 探针的爪头凸起能刺破锡球的氧化层，接触稳定, 保护锡球外形。
4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位。
5. IC载板结构，保护探针不受外力损坏。
6. 探针：探针，铍铜镀硬金、铑。圆融达
7. 维修成本低：方便更换探针，成本低效率高。
8. 度缘材料：330度。
9. 成熟加工范围：跳距pitch=0.4mm。
10.交货周期：快三天内交货。
圆融达产品售后保障：
1. 100天保修（人为损坏除外）。
2. 保修期外，维修，如果需要换部件，只收对应材料成本费。
3. 圆融达可以提供相关的技术支持。
圆融达售前服务：
1. 提品使用说明及产品维护保养事项。
2. 对客户使用培训。
我司针对平板电脑（MID）主板上的各种芯片测试治具有的研究，并有丰富的经验。产品质量稳定，外形美观，欢迎来电咨询。
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