高发光二管测试仪是我公司在研究欧美多种半导体材料检测技术的基础上开发的LED测试仪。数据采集电路由美国英特尔（INTEL）公司的微控制内核芯片、美国德州仪器（TI）公司的A／D与D／A转换芯片及高的恒流与恒压电路构成，能控制和检测0.001V和0.1uA大的微小电压和电流变化；测试过程和数据处理采用计算机控制，是采用WindowsXP平台的测试仪，度大用单片机或者DOS系统控制的普通检测仪，测量LED时更能体现其高度、高稳定度的优势；全中文的windows程序和图形化的人机界面，使用直观、方便，不能测试效率，还能根据计算机显示的IF−VF波形图对被测材料作的特性分析，是目前国内一款能真正检测LED LAMP材料闸流体效应并显示其特性曲线的排测机；本测试仪采用了本公司历经数年开发的拥有自主知识产权的检测软件和新研制的1uA—100mA数控精密恒流电路，其和稳定性均居业界水平，不能满足LED生产厂家现有的生产需求，还能适应将来的发展要求。
本机适用于每支支架20、30颗的共阳或共阴LED LAMP半切材料的小电流压降、大电流压降、漏电流、闸流体效应的检测，还可进行1-50级调节的全点亮目测外观、反向电压冲击试验。在测试方式上有排测和单个测试两种方式，检测到不良二管时用醒目的图标颜色和声音指示
技术规格
（1）小电流压降（VFL）量程：0.001-10.0V
（2）大电流压降（VFH）量程：0.001-10.0V
（3）反向漏电流（IR）量程：1-120UA
（4）VFL电流源：10UA-1000UA可调
（5）VFh电流源：1MA-100MA可调
（6）IR电压源：0.1-10.0V 可调
（7）VR电流源：1-100uA可调
（8）闸流体电流源：0-500uA
（9）闸流体电压源：0-10.0V
（10）全点亮系数：-50 50级可调（静态、动态）
（11）电流冲击：1-100MA，1-255毫秒可调
（12）显示方式：20颗材料三组数据同步显示
（13）显示：4位（V）3位（uA）
（14）电压分辨率：0.001V
（15）电流分辨率：0.1uA
（16）机软件：全中文WindowsXP界面操作程序
（17）机硬件：IBM兼容PC或工控计算机
（18）数据采集板：Intel微指令程控高保护电路
（19）电源供给：160V-240V 50Hz
注意：测试系统须接地！
本机适用于每支支架20、30颗的共阳或共阴LED LAMP半切材料的小电流压降、大电流压降、漏电流、闸流体效应的检测，还可进行1-50级调节的全点亮目测外观、反向电压冲击试验。在测试方式上有排测和单个测试两种方式，检测到不良二管时用醒目的图标颜色和声音指示
技术规格
（1）小电流压降（VFL）量程：0.001-10.0V
（2）大电流压降（VFH）量程：0.001-10.0V
（3）反向漏电流（IR）量程：1-120UA
（4）VFL电流源：10UA-1000UA可调
（5）VFh电流源：1MA-100MA可调
（6）IR电压源：0.1-10.0V 可调
（7）VR电流源：1-100uA可调
（8）闸流体电流源：0-500uA
（9）闸流体电压源：0-10.0V
（10）全点亮系数：-50 50级可调（静态、动态）
（11）电流冲击：1-100MA，1-255毫秒可调
（12）显示方式：20颗材料三组数据同步显示
（13）显示：4位（V）3位（uA）
（14）电压分辨率：0.001V
（15）电流分辨率：0.1uA
（16）机软件：全中文WindowsXP界面操作程序
（17）机硬件：IBM兼容PC或工控计算机
（18）数据采集板：Intel微指令程控高保护电路
（19）电源供给：160V-240V 50Hz
注意：测试系统须接地！
