AFT新一代便携式电路板在线维修测试仪, 是一种通用的电路板故障检测仪器,可以无图纸资料情况下,直接在线测试电路板上集成电路的好坏,测试范围包含常见的数字逻辑集成电路,集成运算放大器,光耦,通讯接口类集成电路,电压比较器,驱动器等芯片,AFT便携式电路板维修测试仪是您开展无图纸电路板维修的得力助手!
ASA(VI)曲线采集对比测试
一、ASA（VI）测试技术原理
ASA检测技术是一种不依据电路板工作原理实现对电路板的器件级检测方法。它实际上是目前常用万用表电阻检测法的自然扩展.
万用表故障检测法通常是这样的：先测出好板上元器件(含集成电路)管脚（实际是电路结点）的电阻、然后与故障板上相应元器件(含集成电路)管脚的电阻进行比较，根据两者差异大小来判断该结点上有无故障。
万用表只能检测在一个电压（表内电池电压）下的电阻值，而半导体器件引脚的电阻是随测试电压的变化而变化的,具有非线性特征,不同测试电压下的电阻未相同。
设想有上百块万用表，每块表的电池电压一样,对每一个管脚，同时用这些表对照测试一遍，检查在器件的整个工作电压区间内的阻是否发生了变化?这种测试方式大大了故障检出率!
如果电压为横坐标，电流为纵坐标，把上百个测试点的数据表示在这个坐标系上，就得到一条电阻曲线——叫做ASA曲线(或VI曲线)。比较好板和坏板相应节点的曲线是否重合，从而判断该节点上是否有故障——这就是ASA测试技术的基本原理。
二、ASA（VI）测试技术特点
1．不涉及电路原理图，无需电路处于工作状态；
2． 测试时不用给电路板(或被测IC)通电；
3． 不涉及被测元器件的功能，无论是数字的、模拟的、数模混合的、功能已知的、未知的等等，均可测试；
4． 它是逐电路结点（按器件管脚）进行测试的，基本上不受元器件封装的限制。
三、距离感受常见元器件的VI曲线
1．电阻
I=U/R说明在电阻负载上，电压和电流是线性关系。显示在VI平面上，就是一条过点的斜线。其斜率大小表示阻值。
2．二管
当v沿正向增加时，电流按指数规律上升；v当向负向增加时，i基本等于负的反向饱和电流。为一常数。二管的VI曲线如下：
3．电容
4．电阻并二管
5．二管并反向二管
6．电阻电容并联
AFT-201测试仪VI曲线实测效果图：
四、AFT-201上的ASA技术特色
1、TOOLTIPS技术的应用，即鼠标指向当前测试点后，提示出测试电压和电流值
2、双探棒对比测试，曲线在坐标上可以重合或错位显示
3、能够自动匹配灵敏曲线
为了得到较高灵敏度的曲线，一般要调整测试信号的输出电阻。普通测试仪只能手动选择曲线的输出阻，这样很麻烦，另外当曲线形状不规则时，往往很难直观判断什么样的曲线灵敏度更高一些；AFT-201测试仪能够自动调整测试信号的输出电阻,类似于万用表的自动电阻档；
大量的维修实践表明，VI曲线的整体走势越接近45度，反映故障的灵敏度越高； 如同使用指针式万用表,指针越接近位置，反映故障越灵敏;
4、具有电路板图像建库测试平台
支持按设备、子设备、电路板多级建库方式,对维修工作的管理!
可以在电路板照片上把任意节点的数据特征采集下来，并储存到计算机上，为以后对比测试提供便利;支持测试夹建库方式,大大测试效率!
可实现图文并茂的板导航、器件导航、管脚导航信息管理，便于积累维修经验，实现经典共享！
能够自动生成测试记录，轻松复现故障检测现场
支持电路板库版权管理。
一个电路板库的质量，对后期的检测效率、故障检出率影响很大。但建立一个高质量的电路板库，通常需要花费大量的精力；为了保护用户的建库权益，AFT-201测试仪可以生成一个享有版权的库文件，方便上市交易，即可以授权（或出售）给其它用户使用.
5、器件离线建库测试平台
不论是单个元器件的故障检测，还是来料元器件的质量筛选，AFT-201测试仪所具有的器件离线建库测试都是当今检测元器件简便经济的检测手段之一；
AFT-201测试仪内置集成电路VI特性曲线编辑器，能够快速扩充集成电路VI曲线标准库，为集成电路的测试或筛选工作提供了方便；
AFT-201测试仪内置40路测试通道, 能够快速实现对各类集成电路的采集和对比测试; 通道属性为双属性,支持对IC的多端叉扫描测试模式;支持常见集成电路的封装,如DIP、SOP、SSOP、PLCC、QFP、LQFP等;
支持动态选择接地管脚;能够识别和处理不稳定曲线
不稳定曲线是指:由于被测电路本身的原因，导致在同样的测试条件下，每次测到的曲线相同,这样就容易对一些好的器件造成误判;
导致不稳定曲线的原因主要有以下三种：
a．自激导致的不稳定
电路结点的电特征千差万别，ASA测试将一个正弦波注入电路结点，某个结点正好在这个频率下出现自激是可能的;自激曲线的现象是大面积散点，并且没有终的稳定状态。更换测试信号频率即可消除。
b．过渡过程导致的不稳定
当结点的充、放电常数相差较大时所导致。这种曲线的现象是当反复测试时，曲线逐步向一个稳定状态靠近，有一个终的稳定状态。
c．测试MOS器件时的不稳定
导致这种不稳定的原因是器件中的MOS晶体管随测试信号上升、下降的开关过程不同。
这种不稳定的现象是曲线上下跳，似乎是两条稳定曲线轮流出现一样。测试时只要把器件的电源脚和地脚都接地即可消除。
支持按不同管脚设置不同的测试参数
VI 曲线测试参数是指信号的幅度、输出阻、频率等。
并非同一个器件的管脚都适用于同样的测试参数。举个典型的例子：集电开路器件的输出往往耐压较高，多用于驱动数码管、继电器等，而输入一般是标准电平，所以对于输出、输入的测试信号的幅度应该不同，才能检测的目的。
AFT-201测试仪为一些的集成电路(或测试情况)提供了个性化的解决方案，能够按不同的管脚设定不同的参数;
二管(DIODE)测量及对比测试
DIODE测试不是指单纯测试一个二管，而是借鉴万用表二管档测量技术来检测电路板上元器件的好坏； AFT-201测试仪不能实现单独检测一个电路节点的二管导通电压,而且还能轻松实现双探棒对比测试;
利用二管挡对比检测电路板上元器件的故障，是维修中比较常用的检测手段之一。尤其在测试有容性、感性的节点时，二管挡的测试相对VI测试尤为敏感,此手法是对VI曲线测试的一个很有利的补充;
支持存储,方便以后对比测试
LCR测试
1、电容测试
在实际应用中，电容器并不是一个纯电容，其内部还有等效电阻，如R（等效串联电阻）、EPR（等效并联电阻），也就是我们通常说的漏电电阻；
一个实际电容通常可以等效如下电路：
容量达标（在标称值范围内）的电解电容，它的R和EPR未合格，所以，实际中会出现测试容量没问题，而上机却不能正常使用的情况。在这三个参数中，R和制造工艺密切相关。测试、电容，从容量和EPR上往往观察不到明显差异，其差异常体现在R的不同上。
能够在线测量电容的容量
EPR测试能指定工作电压
EPR反映电容的漏电大小。EPR越大，漏电越小，所以EPR的值越大越好。EPR随容量增加略有减小，但通常应在兆欧姆以上。另外，故障电容的漏电大小有时还和测试电压相关——在小电压下不漏电，增加测试电压到程度漏电突然激增，所以，测试EPR的电压不低于其实际工作电压。
2、电感测试
3、电阻测试
能够在线测量电阻阻值
4、小电阻测试
集成电路功能测试/性能参数测试
AFT-201测试仪支持对常见数字逻辑器件、运算放大器、光耦等集成电路的功能测试，对部分器件可以进行性能参数(负载能力等)测试;器件库可以应客户的要求进行扩充；
