用户还能根据不同的科研要求,选择3μm-100μm不同范围的扫描器,以及高分辨CCD观测系统和高样品X-Y移动平台,使操作更加方便、。
同我们MicroNano 系列产品一样,这款机型还可以根据用户需要,选购相应的功能模块,将功能扩展至磁力显微镜模式。
技术指标:
扫描模式:STM恒流/恒高模式扫描/ I-V曲线测量/I-Z曲线测量/针尖修饰(脉冲)
AFM接触/非接触/侧向力/轻敲模式形貌/划移扫描/F-Z曲线
样品尺寸:≤Φ10mm
样品厚度:≤5mm
扫描范围:标准配置6μm×6μm
分辨率:STM(X-Y向0.1nm;Z向0.01nm)
接触模式AFM(X-Y向0.2nm;Z向0.03nm)
轻敲模式AFM( x,y方向0.2 nm,z方向0.1nm)
XYZ控制:双12-bit D/A(相当于20位)
数据采样:双12-bit A/D (相当于20位)
扫描速率:20000 P/S
扫描角度:0~360°
图像采样点:256×256 / 512×512
马达控制:线动螺纹+自动马达,行程<10mm,<0.1μm
计算机接口:标准并行口
配套大的MicroNano SPM 2.1软件系统
可选配件及功能模块:
3μm×3μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm规格扫描器
高分辨CCD观测系统
高样品X-Y移动平台
MicroNano MFM-I型磁力显微镜功能模块