LGA 测试座

　　LGA测试座产品特点及性能参数：
　　
　　※封装兼容设计，只要换座头，可兼容测试TSOP封装和LGA封装的FLASH的测试、量产。
　　
　　※大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH；
　　
　　※主控板兼容设计，只要更换主控板的主控IC，可实现芯邦，UT165，安国，SMI，NETWORK方案可互换！。
　　
　　※采用一拖四架构设计，省去外置HUB，每台电脑可同时量产16PCS Flash 芯片，效率；
　　
　　※LGA测试座测试寿命可达20万次以上，是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10；并且探针可更换，维修方便，成本低；
　　
　　※采用手动翻盖式结构，操作方便；
　　
　　※上盖的压板采用结构，下压平稳，IC的压力均匀，不移位；
　　
　　※高的定位槽，LGA定位，生产效率高；
　　
　　※整机24小时工作性能稳定，是FLASH经销商及U盘工厂好帮手！
　　
　　※探针材料：铍铜（标准）；
　　
　　※缘材料：FR-4、PPS等；
　　
　　※小可做到跳距pitch＝0.4mm（引脚中心到中心的距离）；
　　
　　※交货快：快内交货。
　　
　　产品主要功能：
　　
　　※对Flash进行清空及分类挑选。
　　
　　※对Nand Flash进行格式化，测试实际可以用容量。
　　
　　※对Flash进行直接量产，U盘生产效率。
　　
　　产品服务：
　　
　　※三个月保修（人为损坏除外）。
　　
　　※保修期外，维修，如果需换件，只收材料成本费。
　　
　　※可以提供相关的技术支持。