| CheckSum集成电路测试系统应用于集成电路设计与组装公司用来检测集成电路的电气缺陷，如开短路、电阻、电容及二管的电压。 概述：该测试系统是测试IC的一个解决方案。具有占用空间小和耗的特点，可用于实验室及净化室。 系统可以配置广泛的通道，典型配置可达1000个通道，配置可达8000个通道，系统可以设置测试多个站点设备，的测试结果保存到内置的SPC软件进行分析。 模块化的架构使得可以从桌面测试和调试与实时分析工具对大容量、多站点生产在同一测试系统。机械基础架构可以很容易地扩展来满足您的未来需求。该系统可控制一个处理程序来自动改变件和测试而不需要人为操作。 系统提供这些功能所占空间不到一平方米，相比之下，传统的ATE提供这些功能所占的空间是该系统的4-6倍，该系统采用风冷系统，限度降低对空调的要求。 系统采用标准的windows电脑控制测量子系统，可以由负载板或者其它接口装置连接到被测装置。
IC座测试系统高数量的PIN脚测试能力，重复性高，四线低阻测试以及自动学习功能，适合IC座的开路及连通性能测试。
老化板系统高数量的PIN脚测试能力，高重复性和性，复杂的阻测量和多通道加上自动学习功能，使得其适合测试包括老化板在内的各种类型的板。
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