BC3193TM 分立器件时间参数测试系统

　　BC3193TM 分立器件时间参数测试系统
　　
　　系统用途
　　BC3193TM 分立器件时间参数测试系统用于半导体二管、三管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、性分析。
　　
　　系统特点
　　◆PC机为系统的主控机
　　◆菜单式测试程序编辑软件操作简便
　　◆正负脉冲激励源
　　◆美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量，小时间测量分辨率200PS
　　◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递计量标准对系统进行校验
　　◆系统技术支持
　　
　　测试参数
　　开启时间Ton；关断时间Toff；延迟时间Td；存储时间Ts；上升时间Tr；下降时间TF等参数。
　　脉冲发生器
　　脉冲幅度：&plun;5Vpp～&plun;20Vpp（可编程）
　　脉冲边沿：≤5nS（由0到正或负）
　　脉冲宽度：1μS～1mS（可编程）
　　占 空 比：0.1%～10% （可编程）
　　时间测量（同示波器指标）
　　频率：400MHz
　　触发灵敏度：2mV/div
　　小时间测量分辨率：200PS
　　
　　测试系统硬件基本配置
　　联想计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上；
　　计算机接口板（CPUINT）一块；
　　系统接口板（SYSINT）一块含GPIB接口；
　　数据采集板（VM）一块：16位ADC，16X256 RAM；
　　30V/20A程控电压/电流源（VIS）一块；
　　30V/2A程控电压/电流源（VIS）一块；
　　脉冲发生器电压源一块；
　　可编程脉冲发生器一块；
　　美国Lecroy 400M存贮示波器一台；
　　电源控制板（PWC）一块；
　　自检模板一个；
　　测试适配器：根据用户需要配置