DE-3022能量色散X射线荧光光谱仪，采用低功率小型X光管为激发源、电制冷硅半导体探测器为探测单元，是公司为生产制造企业应对WEEE指令和 RoHS指令，新近推出的X射线荧光光谱仪。同时我公司专门研发针对欧盟指令的应用软件，对铅、镉等有害金属进行ppm级的分析。
技术参数
1.激发源：本机采用低功率 X 射线管（Mo靶），电压可达50KV，电流1mA
2.高压电源：50W，50KV，1mA
3.探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器（对MnKa线，分辨率230Kev）
4.多道分析器：2048道
5.软件：基于WINDOWS的强大工作软件。
6.定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。
7.定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。
8.客户可进行二次开发：自行开发任意多个分析方法。
9.电源：交流220V 50Hz
10.体积：520mm x 600mm x 270mm
11.重量：约 42kg（主机）
主要特点
1、制样简单，样品经过简单的制样，甚至无需制样即可直接测量。
2、元素可以同时测量，并且短短几分钟即可完成分析，因此可以应付大批量待测样品。
3、检出限低，可以满足WEEE和RoHS指令。
4、分析。
5、没有人为误差，在分析程序设立后，谁操作都得到一样的结果。
6、操作简单，可以单键完成操作。
技术参数
1.激发源：本机采用低功率 X 射线管（Mo靶），电压可达50KV，电流1mA
2.高压电源：50W，50KV，1mA
3.探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器（对MnKa线，分辨率230Kev）
4.多道分析器：2048道
5.软件：基于WINDOWS的强大工作软件。
6.定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。
7.定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。
8.客户可进行二次开发：自行开发任意多个分析方法。
9.电源：交流220V 50Hz
10.体积：520mm x 600mm x 270mm
11.重量：约 42kg（主机）
主要特点
1、制样简单，样品经过简单的制样，甚至无需制样即可直接测量。
2、元素可以同时测量，并且短短几分钟即可完成分析，因此可以应付大批量待测样品。
3、检出限低，可以满足WEEE和RoHS指令。
4、分析。
5、没有人为误差，在分析程序设立后，谁操作都得到一样的结果。
6、操作简单，可以单键完成操作。
