数字IC多值逻辑测试仪，是我们通过总结国外同类产品的优点，本着实用、方便、测试精准的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。该仪器适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。I3100 数字IC多值逻辑测试仪，利用的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试并同时完成各项直流参数测试。I3100可以满足IC用户的参数测试要求。I3100是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。
主要特点：
1.测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
2.对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
3.真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
4.对IC输入电流、功耗电流测试。
5.输入漏电流及交叉漏电流测试。
6.测试过程无须人工干预。
7.用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。
8.可自动识别74系列中的CMOS器件。
9.可以查找未知IC的型号。
目前I3100的作用单位已通信、电子仪器、电力电子、办公自动化设备、计算机整机、交通电子、消科学器材等各个领域，并获用户一致好。
主要特点：
1.测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
2.对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
3.真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
4.对IC输入电流、功耗电流测试。
5.输入漏电流及交叉漏电流测试。
6.测试过程无须人工干预。
7.用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。
8.可自动识别74系列中的CMOS器件。
9.可以查找未知IC的型号。
目前I3100的作用单位已通信、电子仪器、电力电子、办公自动化设备、计算机整机、交通电子、消科学器材等各个领域，并获用户一致好。
