时代公司TT230一体化涂镀层测厚仪采用涡流测厚仪,能快速地测量非磁性金属基体上的缘涂层的厚度。
-具有5个统计量(平均值、值、小值、测量次数和标准偏差)
-可存储15个测量值
-可进行点校准和两点校准
-具有自动关机功能
-欠压指示功能
-可选配TA220打印机打印测量值和统计值
技术参数
TT220
测量范围:0~1250μm
测量:点校准&plun;(1+3%H)μm;两点校准&plun;[1+(1~3%)H]μm
TT230
测量范围:0~1250μm
测量:点校准&plun;(1.5+3%H)μm;两点校准&plun;[1.5+(1~3%)H]μm