SMM-200罐盖刻线检测仪，采用显微镜测量技术，测量罐盖刻线深度和剩余厚度。采用清晰度CCD摄像系统，通过在显示器上显示罐盖刻线凹槽底部的清晰图像来方便定位，测量数据准确、重现性好！罐盖装夹在一个2维工作台上，方便定位和测量。配置数显千分表，1um（0.001mm）。
其测量原理是采用显微镜对焦测量法，显微镜得到图像清晰表明对焦正确，显微镜焦点的位置高低变化反映了“罐盖刻线”的深浅。采用硬质合金制造的球形的下测量头半径很小，显微镜对焦在下测量头，将数显千分表调，放入罐盖，调整显微镜焦点，当在显示器上显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线剩余厚度。放入罐盖，将显微镜对焦罐盖上表面（刻线边沿），调，调整显微镜焦点，当在显示器上显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线深度。
技术参数
样品盖类型：RP、SOT、EO
测量范围：0-10mm
分度：1μm（0.001mm）
重现性：2μm（0.002mm）
镜头工作距离：8.2mm
放大倍数：
尺寸：250 x 300m x 600 mm
重量：15 kg
其测量原理是采用显微镜对焦测量法，显微镜得到图像清晰表明对焦正确，显微镜焦点的位置高低变化反映了“罐盖刻线”的深浅。采用硬质合金制造的球形的下测量头半径很小，显微镜对焦在下测量头，将数显千分表调，放入罐盖，调整显微镜焦点，当在显示器上显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线剩余厚度。放入罐盖，将显微镜对焦罐盖上表面（刻线边沿），调，调整显微镜焦点，当在显示器上显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线深度。
技术参数
样品盖类型：RP、SOT、EO
测量范围：0-10mm
分度：1μm（0.001mm）
重现性：2μm（0.002mm）
镜头工作距离：8.2mm
放大倍数：
尺寸：250 x 300m x 600 mm
重量：15 kg
