X射线和检测系统

　　XT　H　225　X射线和检测系统，可供工业应用
　　工业部件内外全检
　　外部件和总成特征的详细测量对于质量控制、失效分析和材料研究而言通常是重要的。XT　H系统可提供强大的X射线源，的检测体积和较高的X射线和成像分辨率。
　　XT　H　系统可采用225kV电源，可选用旋转目标，适合于各种应用，包括小铸件检测、塑料件及材料研究。
　　优点
　　可灵活地整合在单个系统中：X射线可用于快速目视检测，可用于深入分析
　　快速数据采集和高质量图像
　　可利用交互式操纵杆导航功能进行快速操作
　　高分辨率数字成像和处理
　　嵌入式装置可使操作人员地操作该系统，无需任何的措施或警示标志
　　可与行业标准后处理应用紧密集成
　　维护开管技术
　　五轴可编程操纵器
　　精选高分辨率数字探测器
　　双显示，用于组合测量和实时分析
　　直观的操纵杆导航可指导生成实时X射线图像
　　测量体积　25X60cm
　　装置，可作为设计标准
　　结构紧凑设计，轻质设施安装
　　合人体工学的样品装载
　　应用
　　评估和测量精密塑料件和小铸件、复杂机构、内部件、部件与CAD比较等
　　故障检测和失效分析
　　装配问题的故障诊断排除
　　材料研究和生物结构的分析
　　模型的数字化归档
　　主要特征概述
　　X射线源
　　可使用25kV至225　kV电压，XT　H　225系统可用于一般用途，例如塑料、PCB、轻合金、小组件和样本或生物样本，也可用于用途，例如重型铸件、焊接件和高密度合金。
　　目标
　　微焦斑可产生高的分辨率，并建议将其作为标准目标。棒阳是中空样品单层壁检测的理想选择，例如管焊接。
　　旋转目标源
　　带有旋转目标的X射线源可将X射线通量5倍，使客户能获得更快的数据采集或在相同的时间跨度内获得更高的数据。
　　五轴样品操纵器
　　XT　H　225系统有三个线性轴和两个旋转轴，可从任意角度观察样品。10kg操纵器可夹住大多数样品重量，以进行操纵。操纵器通常用变速操纵杆进行控制。操纵器也可通过安装在机架上的工业PC机采用编程的方式进行控制。
　　X射线平板探测器
　　可广泛选择各种平板，使其更好地匹配物体尺寸和X射线能量，这提供了样品尺寸、视场和放大倍数要求的选择。
　　高放大倍数
　　当样品向X射线源移动时，几何放大倍数将连续增加，从大约1X（紧挨着增强器窗口）到160X（碰触到X射线源）。
　　图像处理
　　一般NDT应用通常需要一些标准功能，例如对比度加强，图像集成和背景减除。对于更加重要的分析，需要使用一些功能，例如自动芯片粘接空洞和引线弯曲计算、图形显示和色彩增强。
　　性
　　连续泵浦全金属X射线管消除了密封玻璃管故障成本高和更换时间长等问题。客户维护成本低，通常更换灯丝，花费15分钟的更换时间。
　　系统技术指标
　　5μm　焦斑反射目标X射线源，25～225　kV，0～2000μA（非连续）60或225W.
　　10kg容量五轴可编程操纵器。
　　扫描范围250　x　330mm.
　　几何放大倍数：160x.
　　系统放大倍数：400x.
　　特征识别分辨率：1μm.
　　外机柜尺寸：2030mm　L，925mm　D，2000mm　H.
　　全套系统控制和图像处理软件。